在工艺参数变化情况下，芯片的功耗也随之产生很大变化。传统的方法一般分别计算电路的动态功耗和漏电流功耗。这篇论文提出了一种基于决定性参数分析的，可以考虑电路工艺参数之间耦合效应的芯片功耗的统计分析方法。通过这种方法，电路参数之间的耦合效应被去除，并且需要考虑的电路参数数目减少。随后，电路功耗由Hermite正交多项式来表示，并且给出一些统计分析性能。该论文提出的方法在电路参数耦合系数强的情况下效果尤其显著。实验结果证明，在考虑固定输入波形情况下该论文提出的方法比传统的蒙特卡罗方法快100倍，在考虑随机输入波形情况下比蒙特卡罗方法快20倍。

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